【探針測(cè)試臺(tái)】探針測(cè)試臺(tái)是一種用于電子元器件、電路板或連接器等產(chǎn)品進(jìn)行電氣性能測(cè)試的設(shè)備。它通過探針與被測(cè)物接觸,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的輸入與
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